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原子力显微镜

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英文名称: Atomic Force Microscope
规格型号: XE-70
单价: 面议
产地: 韩国
价值: 77.8万元
所在地: 辽宁 锦州市 松山新区
购置日期: 2015-07-10 10:43
使用状态: 良好
有效期至: 长期有效
浏览次数: 3956
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明

功能及用途:
可适用于各种物品,如金属材料,高分子聚合物,生物细胞等。可在空气,真空和液体环境中以高分辨表征样品表面形貌,还可以分析与作用力相应的表面性质
主要技术指标:
1. 基本功能扫描:接触、非接触形貌测量
2. 水平电扫描器范围科大50μm,分辨率开环可达0.02nm,闭环可达0.6nm,垂直压电扫描器最大扫描范围大于10μm,闭环分辨率可达0.2nm
3. 样品台尺寸最大可达100mm X 100mm;遂平移动范围可达20mm X 20mm,精度可达0.6μm
4. 可同步采集16幅图像。图像分辨率可达4096X4096像素
 
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