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实验室DCS控制系统
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PID测试
  • PID测试
  • PID测试:电池片在长期高压作用下使得玻璃与封装材料之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池表面,使得电池表面钝化效果恶化,导致
  • 2015-06-30 10:44  [辽宁锦州市经济技术开发区]
  • 锦州阳光能源有限公司 
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BCT-400少子寿命
  • BCT-400少子寿命
  • 主要功能与应用领域:检测N型单晶硅锭/片少子寿命主要技术指标:1、温度:232℃2、湿度:65%
  • 2015-06-30 10:43  [辽宁锦州市经济技术开发区]
  • 锦州阳光能源有限公司 
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漏电流、绝缘阻抗检测仪
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防孤岛检测装置
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三坐标测量机
  • 三坐标测量机
  • 主要测试和应用领域:零件形状检测主要技术指标:最大误差2.4主要功能:形状测量
  • 2015-07-09 09:19  [辽宁锦州市古塔区]
  •   辽宁工业大学 
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