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PID测试

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公司基本资料信息

产品详细说明

PID测试：电池片在长期高压作用下使得玻璃与封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池表面，使得电池表面钝化效果恶化，导致组件性能下降。
主要技术指标：1、温度： 60℃；

2、湿度：85%；

3、测试组件通直流1000V电压；

4、时间周期：96h。

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